電子元器件溫度衝擊試驗機

一、電子元器件溫度衝擊試驗機控製係統：

1.控製程序的編製采用人機對話方式,僅需設定溫度,就可實現製冷、製熱自動運行功能,控製係統具備完善的檢測裝置能自動進行詳細的故障顯示及報警;

2.所有電器均采用（施耐德）係列產品溫度控製采用P.I.D＋S.S.R係統同頻道協調控製,具有自動演算的功能,可將溫度變化條件立即修正,使溫度控製更為精確穩定;

3.控製器操作界麵設中英文可供選擇,實時運轉曲線圖可由屏幕顯示,資料及試驗條件輸入後,控製器具有熒屏鎖定功能,避免人為觸摸而停機.具有RS-232通訊界麵,可在電腦上設計程式,監視試驗過程並執行自動開關機、控製器具有熒屏自動屏保功能,在長時間運行狀態下更好的保護液晶屏（使其壽命更長久）

二、高低溫衝擊試驗箱執行標準以及滿足試驗方法：

1. GJB150.5A-2009溫度衝擊試驗

2. GB/2423.22-2012/IEC 60068-2-14:2009溫度衝擊試驗

3. GB/T 2424.13-2002/IEC 60068-2-33:1971電工電子產品環境試驗

第2部分:試驗方法溫度變化試驗導則

4. GJB360B-2009溫度衝擊試驗

三、電子元器件溫度衝擊試驗機空氣循環風道：

內置高溫區、低溫區空氣間，內置加熱器、製冷蒸發器及循環風機，高溫衝擊時，高溫熱空氣由循環風機攪拌均勻後經過出風口百葉窗調節風向均勻的通過吊籃樣品區然後從回風口回收，強製熱風循環，低溫衝擊時，冷空氣由循環風機攪拌均勻後經過出風口百葉窗調節風向均勻的通過吊籃樣品區然後從回風口回收，強製冷空氣循環。高溫區及低溫區氣流循環係統獨立，中間通過吊籃切換，將吊籃在高溫區和低溫區之間通過氣缸往複推動，從而達到溫度快速交變和室內溫度均勻分布