裏氏硬度計是一種測試器材,其原理是隨著單片技術的發展,1978年,瑞士人Leeb博士提出了一種全新的測硬方法,它的基本原理是具有一定質量的衝擊體在一定的試驗力作用下衝擊試樣表麵,測量衝擊體距試樣表麵1mm處的衝擊速度與回跳速度,利用電磁原理,感應與速度成正比的電壓。
在現場工作中,經常遇到曲麵試件,各種曲麵對硬度測試結果影響不同,在正確操作的情況下,衝擊落在試件表麵瞬間的位置與平麵試件相同,故通用支撐環即可。但當曲率小到一定尺寸時,由於平麵條件的變形的彈性狀態相差顯著會使衝擊體回彈速度偏低,從而使裏氏硬度示值偏低。因此對試樣,建議測量時使用小支撐環。對於曲率半徑更小的試樣,建議選用異型支撐環。
一、對被測試件的一般要求試件表麵應潔淨,無灰塵,無油汙和無氧化皮。
二、對試件表麵溫度的要求試件表麵的溫度不能過熱,要求溫度小於120℃。測試*溫度為4℃-38℃。
三、對試件表麵粗糙度的要求試件表麵粗糙度應滿足下表的要求,試件表麵的粗糙度不但影響測試精度,而且影響衝擊球頭的使用壽命。
衝擊裝置類型 | 試件表麵粗糙度Ra | 相當於原國標 |
D DC D+15 E DL | 2μm | 6 |
G | 7μm | 4 |
C | 0.4μm | 8 |
四、對試件重量的要求
1、對足夠重的試件不需要支撐,直接進行測試。
2、對重量不太重的試件,有懸伸部分的試件以及薄壁試件,在測試時應使用物體支撐,以避免衝擊力引起試件的扭曲、變形和移動。
3、對重量較小的試件,應使其與重量大與5kg的支撐體牢牢耦合,要求試件與支撐體表麵必須平整、光滑,耦合劑(凡士林,機油等)用量不宜過多,測試方向必須垂直於耦合平麵。衝擊裝置與試件重量的關係見下表:
衝擊裝置類型 | 不需固定支撐 | 需固定支撐 | 需耦合 |
D DC D+15 E DL | 5kg | 2kg | 0.1kg |
G | 15kg | 5kg | 0.5kg |
C | 1.5kg | 0.5kg | 0.02kg |
五、對試件表麵硬化層厚度的要求對於表麵覆有硬化層的試件,為保證測試精度,要求對應於不同的衝擊裝置試件表麵硬化層厚度應符合下表規定:
衝擊裝置類型 | 試件表麵硬化層小厚度 |
D DC D+15 E DL | 0.8mm |
G | ------ |
C | 0.2mm |
六、對板材、管壁型試件厚度的要求對於板材、管材和其它薄片型試件的測試,為保證測試精度,要求對應於不同的衝擊裝置試件厚度應符合下表
衝擊裝置類型 | 被測試件小厚度 |
D DC D+15 E DL | 3mm |
G | 10mm |
C | 1mm |
七、對曲口試件保證測試精度的要求使用D型衝擊裝置,要求試件曲麵半徑大於30mm;使用G型衝擊裝置,要求試件曲麵半徑大於50mm。對不滿足上述要求的球麵、柱麵和凹麵等曲口試件,為保證測試精度,應采用異型支撐環(選購件)。
異型支撐環有如下規格:
1、外圓球麵:K10-15mm,K14.5-30mm。
2、內圓球麵:HK11-13mm,HK12.5-17mm,HK16.5-30mm。
3、外圓柱麵:Z10-15mm,Z14.5-30mm,Z25-50mm。
4、內圓柱麵:HZ11-13mm,HZ12.5-17mm,HZ16.5-30mm。
5、特殊外形:UN
八、對試件表麵無磁性的要求試件表麵不能帶有磁性,帶有磁性的試件將影響測試精度。要求試件剩磁應小於4G。
九、對試件無振動的要求測試時,試件所處的四周環境不應有振動,否則會影響測試結果。